ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據客戶的測試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發平臺，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試設備。在所有的電子元器件（Device）的制造工藝里面，存在著去偽存真的需要，這種需要實際上是一個試驗的過程。

 

 

    為了實現這種過程，就需要各種試驗設備，這類設備就是所謂的ATE（Automatic Test Equipment）。 這里所說的電子元器件 DUT（Device Under Test），當然包括IC類別，此外，還包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序（Front End）和后道工序（Back End）的各個環節，具體的取決于工藝（Process）設計的要求。

 

    折疊編輯本段作用在元器件的工藝流程中，根據工藝的需要，存在著各種需要測試的環節。目的是為了篩選殘次品，防止進入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費用。這些環節需要通過各種物理參數來把握，這些參數可以是現實物理世界中的光，電，波，力學等各種參量，但是，目前大多數常見的是電子信號的居多。